Опис
Скануючий зондовий мікроскоп
Shimadzu SPM-9700HT — це сучасний скануючий зондовий мікроскоп, який досліджує поверхню зразків за допомогою надзвичайно гострого зонда. Прилад забезпечує вивчення топографії та локальних фізико-механічних властивостей поверхні твердих тіл із нанометровою точністю. SPM-9700HT поєднує високу роздільну здатність із широкими можливостями режимів роботи, що робить його незамінним інструментом для наукових і промислових досліджень у галузях матеріалознавства, нанотехнологій та біофізики.
Особливості
- Підтримка декількох режимів сканування — контактного, динамічного, фазового та латерально-силового (LFM) — для комплексного аналізу зразків.
- Висока роздільна здатність: горизонтальна до 0,2 нм, вертикальна до 0,01 нм, що дозволяє виявляти найдрібніші деталі поверхні.
- Різні діапазони сканування (від 2,5×2,5×0,3 мкм до 125×125×7 мкм) забезпечують гнучкість під час роботи з об’єктами різних розмірів.
- Можливість роботи зі зразками діаметром до 24 мм і висотою до 8 мм.
- Висока стабільність та точність позиціонування, що гарантує відтворюваність результатів навіть під час тривалих вимірювань.
