Електронна мікроскопія
Високотехнологічні системи для дослідження структури та складу матеріалів на мікро- і нанорівні за допомогою електронних пучків.
Загальна кількість товарів:
13
Багатопроменевий скануючий електронний мікроскоп, MultiSEM 706
Zeiss (Німеччина)
Іонно-електронний мікроскоп, Crossbeam 350
Zeiss (Німеччина)
Іонно-електронний мікроскоп, Crossbeam 550
Zeiss (Німеччина)
Іонно-електронний мікроскоп, Crossbeam 750
Zeiss (Німеччина)
Іонно-електронний мікроскоп, Crossbeam Samplefab
Zeiss (Німеччина)
Польово-емісійний скануючий електронний мікроскоп, Sigma 360
Zeiss (Німеччина)
Польово-емісійний скануючий електронний мікроскоп, Sigma 560
Zeiss (Німеччина)
Універсальний польово-емісійний скануючий мікроскоп, GeminiSEM 360
Zeiss (Німеччина)
Універсальний польово-емісійний скануючий мікроскоп, GeminiSEM 460
Zeiss (Німеччина)
Універсальний польово-емісійний скануючий мікроскоп, GeminiSEM 560
Zeiss (Німеччина)
Універсальний скануючий електронний мікроскоп, EVO 10
Zeiss (Німеччина)
Універсальний скануючий електронний мікроскоп, EVO 15
Zeiss (Німеччина)
Універсальний скануючий електронний мікроскоп, EVO 25
Zeiss (Німеччина)