Опис
ZEISS MultiSEM 706 — це багатопроменевий скануючий електронний мікроскоп, створений для надшвидкого автоматизованого отримання зображень на нанометричному рівні. На відміну від класичних SEM-систем, MultiSEM використовує 91 електронний пучок, що працюють паралельно, завдяки чому забезпечує винятково високу швидкість зйомки великих площ і об’ємів зразків.
Система орієнтована на задачі, де важливо не лише побачити дрібні структури, а й зберегти макроскопічний контекст зразка. MultiSEM 706 поєднує високу пропускну здатність, автоматизовані процеси зйомки, стабільну безперервну роботу 24/7 і можливість отримання великих масивів даних для подальшого аналізу та 3D-реконструкції.
Ключові можливості
- Багатопроменева SEM-платформа з 91 паралельним електронним пучком
- Надшвидке отримання зображень при нанометричній роздільній здатності
- Автоматизована зйомка великих площ і серійних зрізів
- Робота з великими зразками без втрати дрібних деталей
- Стабільна безперервна експлуатація в режимі 24/7
Технології
- Multi-beam technology: 91 електронний пучок і паралельна багатоканальна детекція для різкого збільшення швидкості зйомки
- Parallel acquisition: одночасне формування багатьох субзображень із подальшим автоматичним об’єднанням у єдине поле
- ZEN for MultiSEM: програмне середовище для керування мікроскопом, автоматизації експериментів і роботи з великими масивами даних
- Automated Section Detection: автоматичне виявлення серійних зрізів і швидке налаштування робочого процесу
- Intelligent Retake Manager: контроль повноти даних і повторна дозйомка окремих ділянок без порушення цілісності набору даних
Застосування
- Дослідження нейронних зв’язків і великомасштабне картування мозку
- Серійні зрізи та 3D-реконструкція ультраструктури тканин
- Мікроелектроніка, інтегральні схеми та зворотне проєктування
- Дослідження батарей, матеріалів і полірованих геологічних зразків
- Високопродуктивна зйомка великих площ для статистично значущого аналізу
Переваги
- Надвисока швидкість: принципово новий рівень продуктивності порівняно з однопроменевими SEM
- Поєднання масштабу і деталізації: великі площі зразка з нанометричною роздільною здатністю
- Автоматизація: мінімізація ручних операцій при роботі з великими серіями даних
- Ідеально для великих масивів даних: оптимально підходить для високопродуктивних і довготривалих проєктів
- Інфраструктурний інструмент: рішення для лабораторій і центрів, де критично важливі швидкість, масштаб і відтворюваність
