Опис
ZEISS Sigma — це сімейство польово-емісійних скануючих електронних мікроскопів (FE-SEM), розроблених для високоякісної візуалізації та розширеного аналізу. Система поєднує високу роздільну здатність, ефективну роботу на низьких прискорювальних напругах і гнучкі можливості дослідження для наукових і прикладних задач.
Sigma орієнтована на користувачів, яким потрібна не лише електронна візуалізація, а й точна характеристика зразків на мікро- та нано-рівні. Завдяки електронній оптиці ZEISS Gemini 1, широкому набору детекторів, підтримці режиму змінного тиску (Variable Pressure) та NanoVP lite, система забезпечує якісні результати навіть при роботі з делікатними, непровідними або складними зразками.
Ключові можливості
- Польово-емісійна FE-SEM платформа для високороздільної візуалізації та аналізу
- Висока роздільна здатність при низьких напругах, включно з режимами 1 кВ і нижче
- Розширені можливості елементного, кристалографічного та морфологічного аналізу
- Ефективна робота з непровідними зразками без обов’язкового напилення
- Підтримка автоматизованих процесів, аналізу з використанням штучного інтелекту та мультимодальної мікроскопії
Технології
- ZEISS Gemini 1 optics: електронна оптика з високою роздільною здатністю, малим розміром зонда та ефективною Inlens-детекцією
- Low-kV imaging: висока деталізація та контраст при низьких прискорювальних напругах для поверхнево-чутливої візуалізації
- NanoVP lite: вдосконалений режим змінного тиску для аналізу та зйомки непровідних зразків із покращеним співвідношенням сигнал/шум
- Flexible Detection: широкий вибір детекторів для отримання топографічної, композиційної та структурної інформації
- ZEN core / RISE / SmartPI / Mineralogic: програмна та аналітична екосистема для кореляційної мікроскопії, раманівської візуалізації, аналізу частинок та автоматизованої мінералогії
Застосування
- Матеріалознавство та наноматеріали
- Енергетичні матеріали, акумулятори, каталізатори, полімери
- Біологічні та біомедичні дослідження
- Геологія, мінералогія та аналіз природних ресурсів
- Промислова мікроскопія, аналіз відмов, контроль якості та аналіз частинок
Переваги
- Високий клас FE-SEM: перехід від рутинної візуалізації до нано-рівневої аналітики
- Якісна робота на низьких напругах: більше поверхневої інформації та менше пошкодження зразка
- Аналітична гнучкість: інтеграція EDS, EBSD, WDS, Raman та інших методів
- Робота зі складними зразками: ефективна візуалізація непровідних і чутливих матеріалів
- Масштабованість: конфігурації Sigma 360 і Sigma 560 дозволяють підібрати систему під задачі лабораторії
