Описание
Ультразвуковой оптический дефектоскоп Shimadzu MIV-X (MAIVIS) — система неразрушающего контроля для обнаружения трещин, пустот, отслоений покрытий и дефектов соединений преимущественно на поверхности и в приповерхностных слоях материалов. Прибор применяется для исследования металлов, керамики, композитов и конструкций из разнородных материалов, включая клеевые и многослойные соединения.
В системе используется технология ультразвуковой оптической дефектоскопии: ультразвуковой возбудитель создает колебания образца, а лазерное освещение и камера регистрируют микроскопические перемещения поверхности. Благодаря сочетанию сдвиговой спекл-интерферометрии со стробоскопической регистрацией программное обеспечение визуализирует распространение ультразвуковых волн. Нарушения волновой картины помогают локализовать потенциальные дефекты без разрушения изделия.
В отличие от последовательного сканирования обычным ультразвуковым преобразователем, MIV-X позволяет наблюдать волновое поле на всей области в поле зрения камеры. В зависимости от расстояния до объекта область контроля составляет примерно от 100 × 150 до 400 × 600 мм. При соответствующих условиях минимальный обнаруживаемый дефект может иметь размер около 1 мм, а с опциональным комплектом оптического увеличения — около 0,5 мм. Эти значения зависят от материала, геометрии и условий контроля.
Особенности
- Ультразвуковое возбуждение с частотой от 20 до 400 кГц и оптическая визуализация волнового поля.
- Контроль большой области поверхности за один цикл наблюдения.
- Программное удаление шумов, фильтрация фоновых волн, маркировка дефектов и измерение их размеров.
- Автоматизированный поиск условий контроля, частотное сканирование и сохранение результатов.
- Возможность использования опциональной стойки камеры и комплекта оптического увеличения.
Применение
- Обнаружение трещин под пленками и покрытиями, а также локальных нарушений целостности поверхности.
- Контроль отслоений лакокрасочных, защитных и газотермических покрытий.
- Исследование клеевых соединений композитов с металлами и соединений разнородных материалов.
- Неразрушающий контроль в материаловедении, машиностроении, транспортной и электронной промышленности.
Метод ориентирован прежде всего на поверхностные и приповерхностные дефекты и дополняет традиционный ультразвуковой контроль. Компьютер, контактная среда, кабель питания и стойка камеры не входят в базовый универсальный комплект производителя.