Опис
Рентгенівський дифрактометр
Прилад із високоточним вертикальним θ-θ гоніометром призначений для аналізу різних зразків, зокрема великих — діаметром до 350 мм і товщиною 190 мм. Конструкція дифрактометра забезпечує автоматичне картування напружень по всій площі зразка. Будь-яку точку на поверхні можна вибрати для вимірювання, а вбудовані CCD-камери дозволяють контролювати положення зони аналізу на екрані в реальному часі.
Особливості
- Система полікапілярної оптики формує паралельний рентгенівський пучок високої інтенсивності та значно покращує співвідношення сигнал/шум.
- Протимонохроматор ефективно знижує рівень фону, підвищуючи якість отриманих дифрактограм.
- Автономна система водяного охолодження забезпечує стабільну роботу під час тривалих вимірювань.
- Прецизійне визначення параметрів кристалічних ґрат, залишкового аустеніту, ступеня кристалічності, розмірів кристалітів, а також аналіз напружень і текстур із використанням програмного забезпечення Rietveld.
- Підтримується якісний і кількісний аналіз із застосуванням баз даних PDF-2 та PDF-4.
