Logo

Молекулярний спектрофотометр УФ-ВИД-БІК діапазону, UV-3700I

Shimadzu (Японія)

Опис

УФ-ВИД-БІК спектрофотометр для дослідження оптичних матеріалів, напівпровідників та інших матеріалів.

Спектрофотометри серії SolidSpec відзначаються високою чутливістю, широким спектральним діапазоном вимірювань — від глибокого ультрафіолету до ближнього інфрачервоного — та великим кюветним відділенням, що забезпечує зручність роботи з різними типами зразків. У конструкції приладу використано всі найкращі технологічні рішення, реалізовані в моделі UV-3600 Plus, завдяки чому SolidSpec демонструє відмінні аналітичні характеристики та стабільність результатів.

На додачу до продуктивності, успадкованої від UV-3600 Plus, SolidSpec має низку власних переваг. Серед них — можливість роботи у вакуумному УФ-діапазоні спектру, а також велике робоче відділення, здатне вмістити практично будь-які приставки або великі зразки. Це дозволяє проводити не лише стандартні вимірювання, а й картування властивостей матеріалів по всій площі зразка, що особливо важливо для досліджень оптичних покриттів, напівпровідників та наноструктурованих матеріалів.

Технічні характеристики

Оптична схема Двопроменева.
Монохроматор Подвійний (Черні-Тернера та передмонохроматор з увігнутими дифракційними ґратами).
Спектральний діапазон 165 – 3300 нм.
Спектральна ширина щілини УФ/видимий діапазон: 8-ступінчаста, від 0,1 до 8 нм. Близький ІЧ-діапазон: 10-ступінчаста, від 0,2 до 32 нм.
Детектор УФ/видимий діапазон: ФЕУ. Близький ІЧ-діапазон: InGaAs / охолоджуваний PbS.
Максимальна швидкість сканування 4500 нм/хв (УФ/вид) • 9000 нм/хв (БЛІК з ФЕУ/InGaAs) • 4000 нм/хв (БЛІК з PbS).

Дізнатись вартість та замовити даний товар

Наші фахівці допоможуть підібрати оптимальну конфігурацію та підготують комерційну пропозицію

Зв’язатися з нами

Рекомендовані товари