Описание
ZEISS MultiSEM 706 — это многолучевой сканирующий электронный микроскоп, созданный для сверхбыстрого автоматизированного получения изображений на нанометровом уровне. В отличие от классических SEM-систем, MultiSEM использует 91 электронный пучок, работающий параллельно, благодаря чему обеспечивает исключительно высокую скорость съёмки больших площадей и объёмов образцов.
Система ориентирована на задачи, где важно не только увидеть мелкие структуры, но и сохранить макроскопический контекст образца. MultiSEM 706 сочетает высокую пропускную способность, автоматизированные процессы съёмки, стабильную непрерывную работу 24/7 и возможность получения больших массивов данных для последующего анализа и 3D-реконструкции.
Ключевые возможности
- Многолучевая SEM-платформа с 91 параллельным электронным пучком
- Сверхбыстрое получение изображений при нанометровом разрешении
- Автоматизированная съёмка больших площадей и серийных срезов
- Работа с крупными образцами без потери мелких деталей
- Стабильная непрерывная эксплуатация в режиме 24/7
Технологии
- Multi-beam technology: 91 электронный пучок и параллельная многоканальная детекция для резкого увеличения скорости съёмки
- Parallel acquisition: одновременное формирование множества субизображений с последующим автоматическим объединением в единое поле
- ZEN for MultiSEM: программная среда для управления микроскопом, автоматизации экспериментов и работы с большими массивами данных
- Automated Section Detection: автоматическое обнаружение серийных срезов и быстрое построение рабочего процесса
- Intelligent Retake Manager: контроль полноты данных и повторная досъёмка отдельных участков без нарушения целостности набора данных
Применения
- Коннектомика и крупномасштабное картирование мозга
- Серийные срезы и 3D-реконструкция ультраструктуры тканей
- Микроэлектроника, интегральные схемы и обратное проектирование
- Исследование батарей, материалов и полированных геологических образцов
- Высокопроизводительная съёмка больших площадей для статистически значимого анализа
Преимущества
- Сверхвысокая скорость: принципиально новый уровень производительности по сравнению с однолучевыми SEM
- Сочетание масштаба и детализации: большие площади образца при нанометровом разрешении
- Автоматизация: минимизация ручных операций при работе с большими сериями данных
- Идеально для больших массивов данных: оптимально подходит для высокопроизводительных и длительных проектов
- Инфраструктурный инструмент: решение для лабораторий и центров, где критически важны скорость, масштаб и воспроизводимость
