Описание
ZEISS LSM 900 для материаловедения — это высокоточная конфокальная лазерная сканирующая система для комплексного анализа материалов, поверхностей и микроструктур в 2D и 3D.
Система объединяет возможности оптической микроскопии и конфокального сканирования, обеспечивая широкий спектр задач в рамках одной платформы. Она позволяет выполнять бесконтактную визуализацию, точные топографические измерения и детальный анализ структуры материалов.
Ключевые возможности
- Высокоточная 3D-визуализация поверхностей и микроструктур.
- Бесконтактный анализ топографии и шероховатости.
- Измерение толщины покрытий и ступенчатых переходов.
- Поддержка различных методов контрастирования.
- Автоматизация сканирования и обработки данных.
Технологии
- Конфокальное лазерное сканирование: оптические срезы и 3D-реконструкция.
- Бесконтактная визуализация: анализ без физического воздействия.
- Мультиконтрастная визуализация: различные режимы освещения.
- ZEN Intellesis: интеллектуальная сегментация изображений.
Применение
- Металлография и анализ сплавов.
- Контроль покрытий и тонких плёнок.
- Анализ шероховатости поверхности.
- Петрография и минералогия.
- Контроль качества материалов.
Преимущества
- Системный подход: единая платформа для различных задач.
- Точность: детальный анализ структуры и поверхности.
- Скорость: автоматизированные процессы.
- Безопасность: бесконтактная работа.
- Гибкость: поддержка различных методов анализа.
